A Difração de Raios X: uma Técnica de Investigação da Estrutura Cristalina de Materiais
Resumo
A difração de raios X (XRD) é uma poderosa técnica não destrutiva de caracterização de materiais cristalinos. Ela fornece informações a respeito das estruturas, das fases, da orientação dos cristais em uma amostra, além de outros parâmetros estruturais, como tamanho médio de grão, cristalinidade, tensão e defeitos do cristal. Os picos de difração de raios X são produzidos pela interferência construtiva de um feixe monocromático de raios X espalhados em ângulos específicos, a partir do conjunto de planos atômicos em uma dada rede cristalina na amostra. O padrão de difração de raios X obtido (difratograma) é a impressão digital dos arranjos atômicos periódicos em um determinado material. Este artigo abordará um resumo sobre a técnica de difração de raios X, a instrumentação utilizada, a preparação de amostras e algumas aplicações industriais atuais, relacionadas às áreas de fármacos, aplicações geológicas, microeletrônica e análise de corrosão.
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